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विवरण
3300 XL 25 मिमी ट्रांसड्यूसर सिस्टम में एक अलग 25 मिमी प्रोब, एक एक्सटेंशन केबल और एक 3300 XL 25 मिमी प्रॉक्सिमिटर सेंसर शामिल है। 0.787 V/mm (20 mV/mil) आउटपुट इस सिस्टम को 12.7 मिमी (500 mils) की रैखिक रेंज प्रदान करता है। इस रैखिक रेंज के आधार पर, 3300 XL 25 मिमी ट्रांसड्यूसर सिस्टम मध्यम से लेकर बड़े स्टीम टर्बाइन जनरेटर पर टर्बाइन रोटर और मशीन स्टेटर (केसिंग) के बीच वृद्धि दर में अंतर के कारण होने वाले विभेदक विस्तार (DE) को मापने के लिए उपयुक्त है।

विभेदक विस्तार मापना(DE)
विभेदक विस्तार माप दो निकटता ट्रांसड्यूसरों द्वारा थ्रस्ट बेयरिंग से कुछ दूरी पर स्थित कॉलर या रैंप का निरीक्षण करके किया जाता है। ट्रांसड्यूसर की विशिष्ट माउंटिंग व्यवस्थाएँ इस प्रकार हैं:
• दो ट्रांसड्यूसर एक कॉलर के एक ही तरफ का निरीक्षण करते हैं।
• दो पूरक इनपुट ट्रांसड्यूसर एक कॉलर के विपरीत पक्षों का निरीक्षण करते हैं, जिससे मापने योग्य DE रेंज प्रभावी रूप से दोगुनी हो जाती है।
दो ट्रांसड्यूसर, जिनमें से कम से कम एक ट्रांसड्यूसर रोटर पर एक रैंप को देखता है और दूसरा ट्रांसड्यूसर रेडियल गति की भरपाई के लिए रोटर पर एक अलग रैंप या किसी अलग स्थान को देखता है। यह व्यवस्था माप में कुछ त्रुटि जोड़ती है, लेकिन पूरक माप की तुलना में अधिक लंबी कुल DE दूरी माप सकती है।
माउंटिंग विधि चुनने के मानदंड उपलब्ध लक्ष्य का आकार, रोटर अक्षीय गति की अपेक्षित मात्रा और मशीन में मौजूद DE लक्ष्य का प्रकार (कॉलर बनाम रैंप) हैं। यदि कॉलर की पर्याप्त ऊँचाई उपलब्ध हो, तो कॉलर के एक ही तरफ़ से देखने वाले दो ट्रांसड्यूसर बेहतर होते हैं।
ये दो ट्रांसड्यूसर अनावश्यक माप प्रदान करते हैं।

सिस्टम संगतता
3300 XL 25 मिमी प्रोब विभिन्न प्रकार के केस कॉन्फ़िगरेशन में उपलब्ध है ताकि सभी मानक 7200 25 मिमी, 7200 35 मिमी और 25 मिमी DE इंटीग्रल ट्रांसड्यूसर सिस्टम (साइड और रियर एग्जिट प्रोब सहित) को भौतिक रूप से प्रतिस्थापित किया जा सके। प्रॉक्सिमिटर सेंसर का आउटपुट भी 7200 और 25 मिमी DE इंटीग्रल सिस्टम के समान है, जिससे ग्राहक बिना किसी बदलाव के अपग्रेड कर सकते हैं।
मॉनिटर कॉन्फ़िगरेशन। पिछले सिस्टम से अपग्रेड करते समय, प्रत्येक ट्रांसड्यूसर सिस्टम घटक (प्रोब, एक्सटेंशन केबल और प्रॉक्सिमिटर सेंसर) को 3300 XL 25 मिमी घटकों से बदलना होगा।